Powered by Made-in-China.com
Programmeerbare scannende microscoop voor het screenen van microdefecten in halfgeleiders
US$ 85.000,00
1 Set
US$ 80.000,00
2+ Sets
Productspecificaties
laserlenzenmodel
laserlenzenbereik/μm
z-as resolutie/nm
Productprofiel
Maatwerk
BeschikbaarAfter-sales Service
online video-ondersteuningGarantie
1 jaarModel NR.
KC-X3000Type
StereomicroscoopMobiliteit
BureaubladStereoscopische Effect
Stereoscopische EffectSoort Lichtbron
LaserGebruik
Biomedisch Onderzoek, Materiaalwetenschappelijke analyse, Industrieel Onderzoek & Assemblage, Onderwijs en Outreach, Forensische en gerechtelijke identificatie, Gemmologie & Mineralogie, industriePrincipe
OptiekPrincipe van Optics
Differentieel Interferentie Contrast Microscoopfocus z-as bewegingsbereik
100 mmfocus z-as aandrijvingsmodus
motorcameraresolutie meten
1200Wde maximale fps van de camera meten
28fpscpu
intel i7intern geheugen
32 gbopslaan
1 tb ssdschermresolutie
3840×2160schermgrootte
27 inchomgevingstemperatuur tijdens bedrijf
luchtvochtigheidluchtvochtigheid
5%~80%rh,no condensatieTransportpakket
kartonnen doosSpecificatie
aangepastHandelsmerk
kathmatischOorsprong
ChinaBelangrijkste kenmerken
Een geïntegreerd ontwerp met 3-in-1 functionaliteit, dat drie kernfuncties combineert: morfologische scanning, diepgaande beeldreconstructie en beeldverlijming, en 3D-fusiemeting, allemaal in één apparaat.
Het kan meerdere apparaten vervangen, waaronder een optische profielmeter, een microscoop met een groot dieptebereik, een instrument voor contourometing en een meetmicroscoop, waardoor de kosten voor aanschaf van apparatuur en de benodigde ruimte aanzienlijk worden verminderd.
Het maakt gebruik van laser-spectrale confocaal scanttechnologie zonder fysiek contact en zonder druk tijdens de meting, waardoor krassen, vervorming of verontreiniging van de monsters worden voorkomen.
Geschikt voor fragiele materialen zoals siliciumwafels, dunne membranen, poreuze koperen materialen en 3D-geprinte onderdelen, waardoor niet-destructief onderzoek mogelijk is.
Geschikt voor het meten van oppervlakte ruwheid in de micrometer range, microtextuur in de millimeter range en geometrische toleranties op meterniveau.
Nieuwe visuele selectiefunctie met een globale navigatiecamera, waarmee u eenvoudig tussen de navigatie- en meetweergave kunt schakelen. Met één klik kunt u een frame selecteren voor grotere oppervlakken of kleine, lokale scangebieden.
Het synchrone focusontwerp van de meetlens en de laserlens ondersteunt automatische botsingsdetectie, waardoor het scherpstellen aanzienlijk wordt versneld en de algehele meetefficiëntie met meer dan 50% wordt verbeterd.
Genereert 3D-puntwolkmodellen in echte kleuren of pseudo-kleuren. Met één klik kunt u CSV-, Excel- en PDF-rapporten en ruwe puntwolkgegevens exporteren voor traceerbaarheid.
All-in-one intelligente analysesoftware met uitgebreide 2D- en 3D-meetinstrumenten, die batchberekeningen ondersteunt voor vlakke afmetingen, contouren, hoogteverschillen, volume/oppervlakte en oppervlakte ruwheid.
Compatibel met verschillende materialen, waaronder transparant glas, metaal, schuim, polymeren, halfgeleiderwafels en keramiek.
Bedrijfsprofiel
GecertificeerdSoort bedrijf: Fabrikant/fabriek & Handelsbedrijf GecertificeerdR&D-capaciteit: ODM-service beschikbaar GecertificeerdAanpassingsopties: Maatwerk vanaf monsters, Maatwerk vanuit ontwerpen, etc. GecertificeerdDichtstbijzijnde Haven: Shanghai PortGemiddelde responstijd: ≤8.24h
Over onze fabriek & Bedrijfsachtergrond
AdresFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Plantengebied3580 Vierkante Meter
Aantal Werknemers294
Maatschappelijk Kapitaal10,000,000 RMB
Gemiddelde DoorlooptijdDoorlooptijd Hoogseizoen: 1-3 Maanden, Doorlooptijd Buiten Het Seizoen, 1-3 Maanden
Partners in de toeleveringsketen51
Onze productiecapaciteit & Technische expertise
Hoofd ProductenDigitale microscopen, optische microscoop, 3D microscoop, laser microscoop, profiler, confocale microscopie, witlichtinterferometer, laser Doppler vibrometer, niet-contact ruwheidstester, Doppler vibrometer
Productielijnen4
ProductiemachinesCNC Centre
QA/QC-inspecteurs8 people
Inspectietype voor Afgewerkte Producten100% inspectie(Visuele inspectie & Functie-inspectie)
Inspectiemethode voor afgewerkte productenHebben instructies en volgen deze consequent op
R&D Ingenieurs56 people
Traceerbaarheid van GrondstoffenJa
Onze branche-ervaring & Wereldwijd bedrijfsrecord
Belangrijkste MarktenNoord Amerika, Sud America, Oost-Europa, Zuid-Oost Azië, Africa, Oceanië, Midden-Oosten, Oost Azië, West-Europa
Nieuwe producten gelanceerd in het afgelopen jaarJa
Onze certificeringen, normen & Erkenning in de branche
Certificering Van ManagementsysteemISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Anderen
Product Q&A
Q:Welke projecten kan KC testen?
A:
3D-vorm, lengte/hoek/radius/afstand tot het midden, diepte/stap, contouren, ruwheid (Ra/Rz/Sa/Sz), vlakheid, volume/oppervlakte, defectdetectie, automatische rapportgeneratie. Ondersteunt parallelle analyse van meerdere apparaten, parallel scannen en verwerken, waardoor de efficiëntie verdubbelt.
Q:Welke monsters kunnen met KC worden getest?
A:
Metalen, grafiet, wafers, glasprintplaten, koperpads, geëtste structuren, batterijelektroden, ondergronde onderdelen, breukvlakken, transparante materialen, poreuze materialen en zachte materialen kunnen allemaal worden getest. Neem contact op om een afspraak te maken voor specifieke testbehoeften en monstertests om de resultaten te bekijken.
Q:Wat is het verschil tussen KC en gewone microscopen en profielmeters?
A:
Gewone microscopen kunnen alleen observeren; een profielmeter kan het monster beschadigen; de KC-X3000 is een alles-in-één meetsysteem voor contactloze, 3D-vorm, afmetingen, ruwheid en vlakheid, met een nauwkeurigheid op nanoniveau en zonder schade aan het monster.
Q:Wat is de KC-X3000?
A:
De KC-X3000 is een precisie-meetsmicroscoop, ontwikkeld door Kathmatic, die vormscannen, observatie met een zeer groot dieptebereik en gecombineerde meting integreert. Het maakt gebruik van spectrale confocale technologie om contactloze, hoogwaardige 3D-microscopische metingen te realiseren.
Q:De KC-X3000, een alles-in-één precisie-meetsmicroscoop, waar verwijst de term "alles-in-één" naar?
A:
Het apparaat integreert drie kernfuncties: vormscannen, observatie met een zeer groot dieptebereik en gecombineerde meting. Één apparaat kan traditionele 3D-profielmeters, microscopen met een zeer groot dieptebereik en contourmetinginstrumenten vervangen, waardoor geïntegreerde observatie, scannen en meetbewerkingen mogelijk zijn.
Verstuur aanvraag
*naar:
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.*Inhoud:
De antwoorden van de leverancier worden verzonden naar je geregistreerde e-mailadres
Dit vind je misschien ook leuk
Elektrische Auto Schakel Metallurgische Microscoop Mx-12r voor Halfgeleider Wafer Defect Inspectie
US$100.00-10,000.00
1 Stuk(MOQ)
Confocale microscoop met hoge resolutie voor inspectie van oppervlaktedefecten van halfgeleiders
US$80,000.00-85,000.00
1 Set(MOQ)
Digitaal gestuurde scanningmicroscoop voor kwantitatieve analyse van microstructuren
US$80,000.00-85,000.00
1 Set(MOQ)
Nauwkeurige multifunctionele laser-scanningconfocale microscoop voor materiaalanalyse op microschaal
US$80,000.00-85,000.00
1 Set(MOQ)
Confocale microscoop voor inspectie van oppervlaktedefecten in micro-elektronische verpakkingen
US$80,000.00-85,000.00
1 Set(MOQ)
Draagbare digitale microscoop voor snelle inspectie van stofdefecten
US$1,299.00-1,359.00
1 stuks(MOQ)
IN-B17 industriële digitale scanning elektronenbinoculairmicroscoop met lcd-scherm
US$600.00-1,000.00
1 Stuk(MOQ)
Draagbare microscoop voor duidelijke defectonderzoek en detectie
US$1,299.00-1,359.00
1 stuks(MOQ)
Microscoop voor halfgeleiders inspectie en meting (LD-250)
US$1,000.00-2,000.00
1 Stuk(MOQ)
Geavanceerde digitale microscoop voor nauwkeurige defectanalyse en detectie
US$1,299.00-1,359.00
1 stuks(MOQ)
Binoculaire stereo-inspectiemicroscoop voor halfgeleiders (XTF-2021)
Bespreekbaar
1 Stuk(MOQ)
Boshida Bd-Pl2600-D1 Polariserende Microscoop Petrologische Microscoop met LCD-scherm voor Onderzoekslaboratorium
US$1,150.00-1,350.00
1 sets(MOQ)
1000X Handheld Digitale Microscoop voor Kinderen: Pocket Microscoop met 2.0" IPS Scherm
US$12.00-25.00
500 Stukken(MOQ)
Azs1065 Zoom Stereo Microscoop voor Moderne Biologie Onderzoek en Halfgeleider
US$1.00-11.00
1 Stuk(MOQ)
Trinoculaire stereo-inspectiemicroscoop voor halfgeleiders (XTS-3022)
Bespreekbaar
1 Stuk(MOQ)