Confocale microscoop met hoge resolutie voor inspectie van oppervlaktedefecten van halfgeleiders

3D-vorm, lengte/hoek/radius/afstand tot het midden, diepte/stap, contouren, ruwheid (Ra/Rz/Sa/Sz), vlakheid, volume/oppervlakte, defectdetectie, automatische rapportgeneratie. Ondersteunt parallelle analyse van meerdere apparaten, parallel scannen en verwerken, waardoor de efficiëntie verdubbelt.

Metalen, grafiet, wafers, glasprintplaten, koperen contactpunten, geëtste structuren, batterijelektroden, ondergronde onderdelen, breukvlakken, transparante materialen, poreuze materialen en zachte materialen kunnen allemaal worden getest. Neem contact op om een afspraak te maken voor specifieke testbehoeften en monstertests om de resultaten te bekijken.

Gewone microscopen kunnen alleen observeren; een profielmeter kan het monster beschadigen; de KC-X3000 is een alles-in-één meetsysteem voor contactloze, 3D-vorm, afmetingen, ruwheid en vlakheid, met een nauwkeurigheid op nanoniveau en zonder schade aan het monster.

De KC-X3000 is een precisiemicroscoop voor het meten, ontwikkeld door Kathmatic, die vormscannen, observatie met een zeer groot dieptebereik en gecombineerde metingen integreert. Het maakt gebruik van spectrale confocale technologie om contactloze, hoogwaardige 3D-microscopische metingen te realiseren.

Het apparaat integreert drie kernfuncties: vormscannen, observatie met een zeer groot dieptebereik en gecombineerde metingen. Eén apparaat kan traditionele 3D-profielmeters, microscopen met een zeer groot dieptebereik en instrumenten voor het meten van contouren vervangen, waardoor geïntegreerde observatie, scannen en meetbewerkingen mogelijk zijn.