Powered by Made-in-China.com
Instrumenten voor oppervlakteanalyse voor het meten van profielruwheid en het contactloos detecteren van microhoogteverschillen
US$ 80.000,00-85.000,001 Set
Instrumenten voor oppervlakteanalyse voor het meten van profielruwheid en het contactloos detecteren van microhoogteverschillen
US$ 85.000,00
1 Set
US$ 80.000,00
2+ Sets
Productspecificaties
laserlenzenmodel
KC-LN010KC-LN020KC-LN03KC-LN040KC-LN050+5
laserlenzenbereik/μm
±6±200±600±1800±5500+5
z-as resolutie/nm
251020150+5
Productprofiel
Maatwerk
BeschikbaarAfter-sales service
online video-ondersteuningGarantie
1 jaarModel NR.
KC-X3000focus z-as bewegingsbereik
100 mmfocus z-as aandrijvingsmodus
motorcameraresolutie meten
1200Wde maximale fps van de camera meten
28fpscpu
intel i7intern geheugen
32 gbopslaan
1 tb ssdschermresolutie
3840×2160schermgrootte
27 inchomgevingstemperatuur tijdens bedrijf
luchtvochtigheidluchtvochtigheid
5%~80%rh,no condensatieTransportpakket
kartonnen doosSpecificatie
aangepastHandelsmerk
kathmatischOorsprong
ChinaBelangrijkste kenmerken
Een geïntegreerd ontwerp met 3-in-1 functionaliteit, dat drie kernfuncties combineert: morfologische scanning, diepgaande beeldreconstructie en beeldverlijming, en 3D-fusiemeting, allemaal in één apparaat.
Het kan meerdere apparaten vervangen, waaronder een optische profielmeter, een microscoop met een groot dieptebereik, een instrument voor contourometing en een meetmicroscoop, waardoor de kosten voor aanschaf van apparatuur en de benodigde ruimte aanzienlijk worden verminderd.
Het maakt gebruik van laser-spectrale confocaal scanttechnologie zonder fysiek contact en zonder druk tijdens de meting, waardoor krassen, vervorming of verontreiniging van de monsters worden voorkomen.
Geschikt voor fragiele materialen zoals siliciumwafels, dunne membranen, poreuze koperen materialen en 3D-geprinte onderdelen, waardoor niet-destructief onderzoek mogelijk is.
Geschikt voor het meten van oppervlakte ruwheid in de micrometer range, microtextuur in de millimeter range en geometrische toleranties op meterniveau.
Nieuwe visuele selectiefunctie met een globale navigatiecamera, waarmee u eenvoudig tussen de navigatie- en meetweergave kunt schakelen. Met één klik kunt u een frame selecteren voor grotere oppervlakken of kleine, lokale scangebieden.
Het synchrone focusontwerp van de meetlens en de laserlens ondersteunt automatische botsingsdetectie, waardoor het scherpstellen aanzienlijk wordt versneld en de algehele meetefficiëntie met meer dan 50% wordt verbeterd.
Genereert 3D-puntwolkmodellen in echte kleuren of pseudo-kleuren. Met één klik kunt u CSV-, Excel- en PDF-rapporten en ruwe puntwolkgegevens exporteren voor traceerbaarheid.
All-in-one intelligente analysesoftware met uitgebreide 2D- en 3D-meetinstrumenten, die batchberekeningen ondersteunt voor vlakke afmetingen, contouren, hoogteverschillen, volume/oppervlakte en oppervlakte ruwheid.
Compatibel met verschillende materialen, waaronder transparant glas, metaal, schuim, polymeren, halfgeleiderwafels en keramiek.
Bedrijfsprofiel

Beheer CertificeringGestandaardiseerde kwaliteitscontrolePatenten toegekendR&D-mogelijkheden
GecertificeerdSoort bedrijf: Fabrikant/fabriek & Handelsbedrijf GecertificeerdR&D-capaciteit: ODM-service beschikbaar GecertificeerdAanpassingsopties: Maatwerk vanaf monsters, Maatwerk vanuit ontwerpen, etc. GecertificeerdDichtstbijzijnde Haven: Shanghai PortGemiddelde responstijd: ≤3.97h
Over onze fabriek & Bedrijfsachtergrond
AdresFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Plantengebied3580 Vierkante Meter
Aantal Werknemers294
Maatschappelijk Kapitaal10,000,000 RMB
Gemiddelde DoorlooptijdDoorlooptijd Hoogseizoen: 1-3 Maanden, Doorlooptijd Buiten Het Seizoen, 1-3 Maanden
Partners in de toeleveringsketen51
Onze productiecapaciteit & Technische expertise
Hoofd ProductenDigitale microscopen, optische microscoop, 3D microscoop, laser microscoop, profiler, confocale microscopie, witlichtinterferometer, laser Doppler vibrometer, niet-contact ruwheidstester, Doppler vibrometer
Productielijnen4
ProductiemachinesCNC Centre
QA/QC-inspecteurs8 people
Inspectietype voor Afgewerkte Producten100% inspectie(Visuele inspectie & Functie-inspectie)
Inspectiemethode voor afgewerkte productenHebben instructies en volgen deze consequent op
R&D Ingenieurs56 people
Traceerbaarheid van GrondstoffenJa
Onze branche-ervaring & Wereldwijd bedrijfsrecord
Belangrijkste MarktenNoord Amerika, Sud America, Oost-Europa, Zuid-Oost Azië, Africa, Oceanië, Midden-Oosten, Oost Azië, West-Europa
Nieuwe producten gelanceerd in het afgelopen jaarJa
Onze certificeringen, normen & Erkenning in de branche
Certificering Van ManagementsysteemISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Anderen
Product Q&A
Q:Welke projecten kunnen met KC worden getest?
A:
3D-vorm, lengte/hoek/radius/afstand tot het midden, diepte/stap, contouren, ruwheid (Ra/Rz/Sa/Sz), vlakheid, volume/oppervlakte, defectdetectie, automatische rapportgeneratie. Ondersteunt parallelle analyse van meerdere apparaten, parallel scannen en verwerken, waardoor de efficiëntie verdubbelt.
Q:Welke materialen kunnen met KC worden getest?
A:
Metalen, grafiet, wafers, glasprintplaten, koperen contactpunten, geëtste structuren, batterijelektroden, ondergronde onderdelen, breukvlakken, transparante materialen, poreuze materialen en zachte materialen kunnen allemaal worden getest. Neem contact op om een afspraak te maken voor specifieke testbehoeften en om uw monsters te testen en de resultaten te bekijken.
Q:Wat is het verschil tussen KC en gewone microscopen en profielmeters?
A:
Gewone microscopen kunnen alleen observeren; een profielmeter kan het monster beschadigen; de KC-X3000 is een alles-in-één meetsysteem voor contactloze, 3D-vorm, afmetingen, ruwheid en vlakheid, met een nauwkeurigheid op nanoniveau en zonder schade aan het monster.
Q:Wat is de KC-X3000?
A:
De KC-X3000 is een precisie-meetsmicroscoop, ontwikkeld door Kathmatic, die vormscannen, observatie met een zeer groot dieptebereik en gecombineerde meting integreert. Het maakt gebruik van spectrale confocale technologie om contactloze, hoogwaardige 3D-microscopische metingen te realiseren.
Q:De KC-X3000 is een alles-in-één precisie-meetsmicroscoop. Waar verwijst de term "alles-in-één" naar?
A:
Het apparaat integreert drie kernfuncties: vormscannen, observatie met een zeer groot dieptebereik en gecombineerde meting. Eén apparaat kan traditionele 3D-profielmeters, microscopen met een zeer groot dieptebereik en contourmetinginstrumenten vervangen, waardoor geïntegreerde observatie, scannen en meetbewerkingen mogelijk zijn.
Verstuur aanvraag
*naar:
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.*Inhoud:
0/4000
De antwoorden van de leverancier worden verzonden naar je geregistreerde e-mailadres
Dit vind je misschien ook leuk
Laboratoriumkwaliteit 20X-9000X analyse-instrumenten met hoge vergroting voor de analyse van microstructuren
US$65,000.00-73,000.00
1 Set(MOQ)
Optische analysemicroscoopinstrumenten voor halfgeleiders voor elektrochemische corrosiescans
US$65,000.00-73,000.00
1 Set(MOQ)
Precisie stroomonderbreker testinstrument voor mechanische analyse
US$7,900.00-8,900.00
1 Set(MOQ)
pH100 Laboratorium pH- en Mv-testinstrument voor wateranalyse
US$200.00-1,000.00
1 Stuk(MOQ)
Multifunctionele microscopische optischebeeldanalysetoestellen voor perovskietroosterscans
US$65,000.00-73,000.00
1 Set(MOQ)
Meervoudige functie waterkwaliteitsinstrument voor continue wateranalyse in Wtp
US$459.00-5,999.00
1 Stuk(MOQ)
Digitale Geluidsgolfinstrument voor Niet-Metallische Materialen en Structuren
US$5,000.00-30,000.00
1 set(MOQ)
Icp-instrument voor wetenschappelijke monsteranalyse
US$53,700.00-55,400.00
1 Set(MOQ)
Gl-16K Multifunctionele Snelle Verteringsinstrument voor Wateranalyse
US$100.00-1,000.00
1 Stuk(MOQ)
Bzw-CH330 Hoogte Terminal Meetinstrument
US$700.00-300,000.00
1 ZETTEN(MOQ)
Geavanceerd aerosolcompatibiliteitsanalyse-instrument voor nauwkeurige metingen
US$90.00-95.00
1 Set(MOQ)
Kdsc-500A Rt-500℃ DSC Thermische Analyse Instrument
US$3,000.00-4,500.00
1 Stuk(MOQ)
Keysight N9320A Witte Elektronische Instrument voor RF Spectrum Analyse
US$20,000.00
1 Stuk(MOQ)
Professioneel instrument voor het detecteren van landbouwafval voor fruit, groenten en granen
US$1,000.00-1,335.00
1 Set(MOQ)
Waterbehandeling Do Ec Orp pH Waterkwaliteitsanalyse-instrument
US$98.00-165.00
1 Stuk(MOQ)
20X-9000X Optische beeldvormingsmeetapparatuur voor statistische analyse van keramische deeltjes
US$40,000.00-42,000.00
1 Set(MOQ)
G7 Intelligente Spijsverteringsinstrument voor Milieu Monitoring Wateranalyse
US$100.00-1,000.00
1 Stuk(MOQ)
Hete Plaat Warmtegeleidingsinstrument voor Refractair Materiaal
Bespreekbaar
1 Set(MOQ)


















