Powered by Made-in-China.com
Optische Profiler Wit Licht Interferometer Drie Dimensionale Meting Microscoop voor Materiaal Micro Analyse
US$ 85.000,00
1 Set
US$ 80.000,00
2+ Sets
Productspecificaties
laserlenzenmodel
laserlenzenbereik/μm
z-as resolutie/nm
Productprofiel
Maatwerk
BeschikbaarAfter-sales Service
online video-ondersteuningGarantie
1 jaarModel NR.
KC-X3000Type
StereomicroscoopMobiliteit
BureaubladStereoscopische Effect
Stereoscopische EffectSoort Lichtbron
LaserGebruik
Biomedisch Onderzoek, Materiaalwetenschappelijke analyse, Industrieel Onderzoek & Assemblage, Onderwijs en Outreach, Forensische en gerechtelijke identificatie, Gemmologie & Mineralogie, industriePrincipe
OptiekPrincipe van Optics
Differentieel Interferentie Contrast Microscoopfocus z-as bewegingsbereik
100 mmfocus z-as aandrijvingsmodus
motorcameraresolutie meten
1200Wde maximale fps van de camera meten
28fpscpu
intel i7intern geheugen
32 gbopslaan
1 tb ssdschermresolutie
3840×2160schermgrootte
27 inchomgevingstemperatuur tijdens bedrijf
luchtvochtigheidluchtvochtigheid
5%~80%rh,no condensatieTransportpakket
kartonnen doosSpecificatie
aangepastHandelsmerk
kathmatischOorsprong
ChinaBelangrijkste kenmerken
Een geïntegreerd ontwerp met 3-in-1 functionaliteit, dat drie kernfuncties combineert: morfologische scanning, diepgaande beeldreconstructie en beeldverlijming, en 3D-fusiemeting, allemaal in één apparaat.
Het kan meerdere apparaten vervangen, waaronder een optische profielmeter, een microscoop met een groot dieptebereik, een instrument voor contourometing en een meetmicroscoop, waardoor de kosten voor aanschaf van apparatuur en de benodigde ruimte aanzienlijk worden verminderd.
Het maakt gebruik van laser-spectrale confocaal scanttechnologie zonder fysiek contact en zonder druk tijdens de meting, waardoor krassen, vervorming of verontreiniging van de monsters worden voorkomen.
Geschikt voor fragiele materialen zoals siliciumwafels, dunne films, poreuze koperen materialen en 3D-geprinte onderdelen, waardoor niet-destructief onderzoek mogelijk is.
Geschikt voor het meten van oppervlakte ruwheid in de micrometer range, microtextuur in de millimeter range en geometrische toleranties op meterniveau.
Nieuwe visuele selectiefunctie met een globale navigatiecamera, waarmee u eenvoudig tussen de navigatie- en meetweergave kunt schakelen. Met één klik kunt u een frame selecteren voor grotere oppervlakken of kleine, lokale scangebieden.
Het synchrone focusontwerp van de meetlens en de laserlens ondersteunt automatische botsingsdetectie, waardoor het scherpstellen aanzienlijk wordt versneld en de algehele meetefficiëntie met meer dan 50% wordt verbeterd.
Genereert 3D-puntwolkmodellen in echte kleuren of pseudo-kleuren. Met één klik kunt u CSV-, Excel- en PDF-rapporten en ruwe puntwolkgegevens exporteren voor traceerbaarheid.
All-in-one intelligente analysesoftware met uitgebreide 2D- en 3D-meetinstrumenten, die batchberekeningen ondersteunt voor vlakke afmetingen, contouren, hoogteverschillen, volume/oppervlakte en oppervlakte ruwheid.
Compatibel met verschillende materialen, waaronder transparant glas, metaal, schuim, polymeren, halfgeleiderwafels en keramiek.
Bedrijfsprofiel
GecertificeerdSoort bedrijf: Fabrikant/fabriek & Handelsbedrijf GecertificeerdR&D-capaciteit: ODM-service beschikbaar GecertificeerdAanpassingsopties: Maatwerk vanaf monsters, Maatwerk vanuit ontwerpen, etc. GecertificeerdDichtstbijzijnde Haven: Shanghai PortGemiddelde responstijd: ≤5.82h
Over onze fabriek & Bedrijfsachtergrond
AdresFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Plantengebied3580 Vierkante Meter
Aantal Werknemers294
Maatschappelijk Kapitaal10,000,000 RMB
Gemiddelde DoorlooptijdDoorlooptijd Hoogseizoen: 1-3 Maanden, Doorlooptijd Buiten Het Seizoen, 1-3 Maanden
Partners in de toeleveringsketen51
Onze productiecapaciteit & Technische expertise
Hoofd ProductenDigitale microscopen, optische microscoop, 3D microscoop, laser microscoop, profiler, confocale microscopie, witlichtinterferometer, laser Doppler vibrometer, niet-contact ruwheidstester, Doppler vibrometer
Productielijnen4
ProductiemachinesCNC Centre
QA/QC-inspecteurs8 people
Inspectietype voor Afgewerkte Producten100% inspectie(Visuele inspectie & Functie-inspectie)
Inspectiemethode voor afgewerkte productenHebben instructies en volgen deze consequent op
R&D Ingenieurs56 people
Traceerbaarheid van GrondstoffenJa
Onze branche-ervaring & Wereldwijd bedrijfsrecord
Belangrijkste MarktenNoord Amerika, Sud America, Oost-Europa, Zuid-Oost Azië, Africa, Oceanië, Midden-Oosten, Oost Azië, West-Europa
Nieuwe producten gelanceerd in het afgelopen jaarJa
Onze certificeringen, normen & Erkenning in de branche
Certificering Van ManagementsysteemISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Anderen
Product Q&A
Q:Wat is de prijs per eenheid?
A:
De prijzen variëren afhankelijk van de verschillende modellen en configuraties. Wilt u uw contactgegevens verstrekken, zodat ik een technische specialist kan inschakelen om u een offerte te sturen op basis van uw wensen?
Q:Is de software voor de apparatuur compatibel?
A:
Ja, de software voor de apparatuur is intern ontwikkeld en wordt standaard meegeleverd, waardoor u er levenslang gebruik van kunt maken. Kan deze worden aangepast en gemodificeerd aan mijn behoeften? Dat hangt af van de specifieke situatie. Wilt u uw specifieke eisen vermelden, zodat we kunnen beoordelen of we aan uw wensen kunnen voldoen?
Q:In welke industrieën worden Kathmatic-producten voornamelijk gebruikt?
A:
Halfgeleiders, 3C-elektronica, lithiumbatterijen, zonne-energie, precisie-mallen, auto-industrie, medische sector, wetenschappelijk onderzoek en universiteiten. Toepassingen zijn onder meer het meten van chipverpakkingen, defecten in soldeerbollen, telefoononderdelen, batterijpolen, krassen in mallen, medische apparatuur, enz. Als u specifieke meetbehoeften heeft, kunt u contact opnemen met onze online klantenservice om in contact te komen met een technische specialist.
Q:Welke apparatuur omvatten de Kathmatic-modellen KM, KC, KS, KN en KV respectievelijk?
A:
KM-serie: Automatisch 3D-meetsysteem (2D+3D + ultra-diepteres + confocaal + filmdikte), met batch-flitsmeting en volledige automatisering.
KC-serie: Precisie-meetsmicroscoop 3-in-1, geschikt voor nanometrische metingen van topografie/ruwheid/filmdikte, veel gebruikt in de halfgeleiderindustrie en bij het maken van mallen.
KS-serie: 3D-digitale microscoop met ultra-diepteres, hoge resolutie en stiknaden, en microscopische observatie, veel gebruikt in wetenschappelijk onderzoek en kwaliteitscontrole.
Q:Kan het product worden aangepast?
A:
Productstandaarden kunnen worden aangepast. Wilt u uw specifieke eisen vermelden, zodat we kunnen beoordelen of we aan uw wensen kunnen voldoen?
Verstuur aanvraag
*naar:
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.*Inhoud:
De antwoorden van de leverancier worden verzonden naar je geregistreerde e-mailadres
Dit vind je misschien ook leuk
Optische Imaging Profiler Drie Dimensionale Meetmicroscoop voor Halfgeleider Microstructuur Meting
US$80,000.00-85,000.00
1 Set(MOQ)
Kathmatic Ruwheid Profiler Wit Licht Meting Microscoop voor Oppervlakteprofiel Meting
US$80,000.00-85,000.00
1 Set(MOQ)
Boshida Bd-6r-D1 50X-1000X Donker Veld Polariserende Dic Metallurgische Microscoop Kan Meetcamera Brengen voor Materiaal Analyse
US$11,000.00-12,000.00
1 sets(MOQ)
Meetapparatuur Veelzijdige Nauwkeurige Witlichtmeetmicroscoop voor Inspectie van Mechanische Onderdelen
US$80,000.00-85,000.00
1 Set(MOQ)
Witlichtinterferometer 3-in-1-precisiemicroscoop voor materiaallaboratoria van universiteiten
US$80,000.00-85,000.00
1 Set(MOQ)
Boshida Bd-3230-D3 Donker Veld Polariserende Dic Metallurgische Microscoop met Meetcamera voor Materiaal Analyse
US$1,500.00-1,700.00
1 sets(MOQ)
Boshida Bd-3230-D1 Donker Veld Polariserende Dic Metallurgische Microscoop met Meetcamera voor Materiaalonderzoek
US$1,500.00-1,700.00
1 sets(MOQ)
Boshida Bd-4r-D3 Donker Veld Polariserende Dic Metallurgische Microscoop Kan Meetcamera Brengen voor Materiaal Analyse
US$7,500.00-8,000.00
1 sets(MOQ)
Goedkope Prijs Binoculaire Metallurgische Microscoop voor Materiaaloppervlak Observatie
US$586.00-600.00
1 Stuk(MOQ)
Professionele metallografische microscoop voor materiaalanalyse - Directe fabriek uit China
US$2,000.00-3,000.00
1 Stuk(MOQ)


















