Powered by Made-in-China.com
Industriële Microscoop Systeem met 0 1μm Minimale Stapnauwkeurigheid Kenmerk
US$ 73.000,00
1 Set
US$ 65.000,00
2+ Sets
Productspecificaties
objectieflensmodel
vermenigvuldigkeuze
platformcomponenten
Productprofiel
Maatwerk
BeschikbaarAfter-sales service
online video-ondersteuningGarantie
1 jaarModel NR.
KS-X5000PSoorten Test
Schilferige MateriaalMerk
kathmatischDetectie methode
opticaAutomatische gradering
VolautomatischeType
EnkelvoudigToepassingsgebied
KwaliteitscontrolePijpleidingsysteem
Geïntegreerdez-as aandrijving reis
50 mmminimale stapnauwkeurigheid
0.1μmbeeldsensor
25 miljoen hoge definitie pixelshoofdregelprocessor
intel i7 hoge prestaties processorbedrijfsgeheugen
64gb grote geheugengegevensopslag
1tb ssd hoge snelheid solid state schijfonafhankelijke grafische kaart
rtx3060 professionele grafische kaartweergaveapparaat
27-inch 4k ultra heldere scherm, resolutie 3840×2160bedrijfstemperatuur
5℃-40℃bedrijfsvochtigheid
5%-80% rh, geen condensatievoedingssysteem
uitgerust met een industriële kwaliteit stabiele voedingTransportpakket
kartonnen doosSpecificatie
aangepastHandelsmerk
kathmatischOorsprong
ChinaBelangrijkste kenmerken
Uitgerust met een volledig geüpgraded optisch beeldvormingssysteem, zijn de synthese- en naadtechnologieën synchroon geoptimaliseerd.
Vier belangrijke beeldvormingsparameters zijn aanzienlijk verbeterd in vergelijking met traditionele microscopen, waaronder optische resolutie, kleurreproductie, prestaties bij multi-licht beeldvorming en pixeldichtheid.
Microstructuren, metallografische structuren en kleine krassen kunnen duidelijk worden weergegeven zonder vervorming of kleurschifting.
De functie voor diepte-synthese met een extreem groot dieptebereik maakt gelaagde beelden mogelijk binnen een configureerbaar Z-asbereik, registreert hoogtegegevens en synthetiseert vervolgens beelden van puntwolken in volledige focus en met echte kleuren.
Het ondersteunt 3D-metingen van de hoogte van lasverbindingen, de hoogte van BGA-bumpjes, profielen, volumes, oppervlakte ruwheid en hoogteverschillen, en genereert pseudo-kleur hoogtekaarten.
Integreert 7 soorten verlichtingsmodi: coaxiale verlichting, ringverlichting, zijverlichting, doorlichting van onderen, polarisatie, DIC-differentieel interferentie en vierkleurige verlichting.
Verschillende soorten verlichting zijn geschikt voor gladde wafers, diffuse metalen, transparante kristallen, spanningsstructuren en microkrassen, waardoor verborgen defecten effectief worden blootgelegd.
Ondersteunt 2D-vlakke naadtechnologie en 3D-diepte-naadtechnologie, met een maximale naadresolutie van meer dan 10 miljard pixels.
Het ingebouwde realtime focusvoorvertoningsvenster toont de relatieve positie tussen de lens en het monster, met een anti-botsingswaarschuwingslijn, waardoor de observatie van de zijkanten wordt vereenvoudigd.
Volledige 2D- en 3D-meetfuncties. De 3D-metingen omvatten hoogteverschil, profiel, volume en oppervlakte ruwheid (Ra/Sa). Alle meetgegevens kunnen worden geëxporteerd naar tabellen.
Bedrijfsprofiel
GecertificeerdSoort bedrijf: Fabrikant/fabriek & Handelsbedrijf GecertificeerdR&D-capaciteit: ODM-service beschikbaar GecertificeerdAanpassingsopties: Maatwerk vanaf monsters, Maatwerk vanuit ontwerpen, etc. GecertificeerdDichtstbijzijnde Haven: Shanghai PortGemiddelde responstijd: ≤5.82h
Over onze fabriek & Bedrijfsachtergrond
AdresFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Plantengebied3580 Vierkante Meter
Aantal Werknemers294
Maatschappelijk Kapitaal10,000,000 RMB
Gemiddelde DoorlooptijdDoorlooptijd Hoogseizoen: 1-3 Maanden, Doorlooptijd Buiten Het Seizoen, 1-3 Maanden
Partners in de toeleveringsketen51
Onze productiecapaciteit & Technische expertise
Hoofd ProductenDigitale microscopen, optische microscoop, 3D microscoop, laser microscoop, profiler, confocale microscopie, witlichtinterferometer, laser Doppler vibrometer, niet-contact ruwheidstester, Doppler vibrometer
Productielijnen4
ProductiemachinesCNC Centre
QA/QC-inspecteurs8 people
Inspectietype voor Afgewerkte Producten100% inspectie(Visuele inspectie & Functie-inspectie)
Inspectiemethode voor afgewerkte productenHebben instructies en volgen deze consequent op
R&D Ingenieurs56 people
Traceerbaarheid van GrondstoffenJa
Onze branche-ervaring & Wereldwijd bedrijfsrecord
Belangrijkste MarktenNoord Amerika, Sud America, Oost-Europa, Zuid-Oost Azië, Africa, Oceanië, Midden-Oosten, Oost Azië, West-Europa
Nieuwe producten gelanceerd in het afgelopen jaarJa
Onze certificeringen, normen & Erkenning in de branche
Certificering Van ManagementsysteemISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Anderen
Product Q&A
Q:Kan de KS-serie gebruikt worden voor foutanalyse? Kunnen er microscopische beelden in hoge resolutie worden gemaakt?
A:
Absoluut. De zoom is 20-9000x, met volledige focus en helderheid, 3D-beeldvorming, ruwtemeting. Geschikt voor het analyseren van scheuren, krassen, corrosie, slijtage en de microstructuur van materialen. Het is mogelijk om beelden in hoge resolutie en meetrapporten te exporteren.
Q:Wat is het verschil tussen de "super diepte van veld"-functie van de KS-serie en de KM-serie?
A:
De KS is een zuivere microscoop met een groot diepte van veld, met een hogere vergroting (20-9000x) en meer details, geschikt voor microstructuuronderzoek, foutanalyse en wetenschappelijk onderzoek.
De KM is een geïntegreerd systeem met vijf functies, waarvan "super diepte van veld" er een is. Het houdt rekening met 2D/3D-beelden en filmdikte, en is geschikt voor kwaliteitscontrole in de industrie, met de nadruk op efficiëntie.
Q:Kan een microscoop met een groot diepte van veld de lijndikte van PI-lithografie bepalen?
A:
Hallo, hartelijk dank voor uw interesse in ons product! De microscoop met een groot diepte van veld heeft zeer nauwkeurige meetmogelijkheden en kan aan verschillende microscopische behoeften voldoen. Ons product heeft de juiste meetmogelijkheden om de lijndikte van PI-lithografie te meten. Neem gerust contact op met ons professionele team, wij zullen u gedetailleerdere antwoorden en technische ondersteuning bieden.
Q:Kan een 3D-digitale microscoop slijtage aan freesbeitels observeren?
A:
Hallo, onze 3D-digitale microscoop presteert uitstekend bij het observeren van slijtage aan freesbeitels. Het levert beelden in hoge resolutie en met een groot diepte van veld, waardoor u de slijtage van freesbeitels nauwkeurig kunt vaststellen. Bovendien zijn onze producten gebruiksvriendelijk en stabiel, en voldoen ze aan uw verschillende observatiebehoeften. Neem contact op met ons professionele service team voor meer informatie.
Q:In welke vakgebieden kunnen 3D-digitale microscopen worden gebruikt?
A:
3D-digitale microscopen hebben een breed scala aan toepassingen in verschillende vakgebieden. In de materiaalkunde worden ze gebruikt om de microstructuur en eigenschappen van materialen te analyseren. Ze worden veel gebruikt in industrieën zoals intelligente productie, lucht- en ruimtevaart, 3C-elektronica, halfgeleiders, de auto-industrie, nieuwe energie, nieuwe materialen, medische farmaceutica, enz. In welk specifiek vakgebied wilt u meer weten over de toepassingen?
Verstuur aanvraag
*naar:
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.*Inhoud:
De antwoorden van de leverancier worden verzonden naar je geregistreerde e-mailadres
Dit vind je misschien ook leuk
Hoge Definitie 3D Microscopische Beeldvormingssysteem met Minimale Stapnauwkeurigheid
US$65,000.00-73,000.00
1 Set(MOQ)
Hoge Definitie 3D Microscopische Beeldvorming Systeem voor Nauwkeurige Metingen
US$65,000.00-73,000.00
1 Set(MOQ)
Iwin-Fbt-X Automatische Blaine Luchtdoorlatendheid Apparatuur met Volledige Garantie
US$420.00-500.00
1 Stuk(MOQ)
Kathmatic Stereoultra Diepte van Veld Drie-Dimensionale Microscopie Systeem voor Profielcurve Extractie
US$65,000.00-73,000.00
1 Set(MOQ)
Kathmatic Materiaal Test Super Diepte van Veld Microscopie Systeem voor Micro Gat Opening Meting
US$65,000.00-73,000.00
1 Set(MOQ)
Iwin-Fbt-X Automatische Blaine Luchtdoorlatendheidsapparaat voor Grote Cementbatch
US$420.00-500.00
1 Stuk(MOQ)
Kathmatic Laboratorium Kwaliteit 3D Optisch Profiler Detectie Apparatuur Oppervlakte Analyse voor Machining Textuur Observatie
US$80,000.00-85,000.00
1 Set(MOQ)
ASTM Standaard Iwin-Fbt-X Blaine Luchtdoorlatendheidsapparaat voor Laboratoriumgebruik
US$420.00-500.00
1 Stuk(MOQ)
Iwin-Fbt-X Automatische Blaine Luchtdoorlatendheid Apparatuur met Hoge Efficiëntie
US$420.00-500.00
1 Stuk(MOQ)
Kathmatic 3D Meting Km Serie One-Touch Flitsmeetmachine voor Oppervlakte Ruwheid Meting
US$90,000.00-100,000.00
1 Set(MOQ)
Kathmatic 3D Meting Km Serie One-Touch Flitsmeetmachine voor Batchstatistieken van 3D Kenmerken
US$90,000.00-100,000.00
1 Set(MOQ)
Kathmatic 3D Meting Km Serie One-Touch Flitsmeetmachine voor Meerdere Laag Transparante Film Dikte Scanning
US$90,000.00-100,000.00
1 Set(MOQ)
Kathmatic 3D Meting Km Serie One-Touch Flits Visie Meetmachine voor Volledig Automatische Meetinstrument voor Complexe Werkstukken
US$90,000.00-100,000.00
1 Set(MOQ)
Draagbare digitale oppervlaktestructuurtester voor precisie materiaalmeting
US$1,050.00
1 Stuk(MOQ)
Draagbare oppervlakte-ruwheidmeter voor Ra Rz meting
US$1,050.00
1 Stuk(MOQ)
Ruwheidsmeter, aparte oppervlakte ruwheid tester Srt-6210s
US$673.00-760.00
2 Stukken(MOQ)
Oppervlakte Ruwheid Tester Rt-100
Bespreekbaar
1 Stuk(MOQ)
Oppervlakte Ruwheid Tester Srt-6210, 4 Parameters Digitale Oppervlakte Ruwheid Tester (Ra, Rz, Rq, Rt)
US$675.00-760.00
1 Stuk(MOQ)



















