Confocale microscoop voor kwantitatieve meting van de oppervlakteruwheid van keramische chips

3D-vorm, lengte/hoek/radius/afstand tot het midden, diepte/stap, contouren, ruwheid (Ra/Rz/Sa/Sz), vlakheid, volume/oppervlakte, defectdetectie, automatische rapportgeneratie. Ondersteunt parallelle analyse van meerdere apparaten, parallel scannen en verwerken, waardoor de efficiëntie verdubbeld wordt.

Metalen, grafiet, wafers, glasprintplaten, koperen contactpunten, geëtste structuren, batterijelektroden, ondergronde onderdelen, breukvlakken, transparante materialen, poreuze materialen en zachte materialen kunnen allemaal worden getest. Neem contact op om een afspraak te maken voor specifieke testbehoeften en om uw monsters te laten testen, zodat u de resultaten kunt zien.

Gewone microscopen kunnen alleen observeren; een profielmeter kan het monster beschadigen; de KC-X3000 is een alles-in-één meetsysteem voor contactloze, 3D-vorm, afmetingen, ruwheid en vlakheid, met een nauwkeurigheid op nanoniveau en zonder schade aan het monster.

De KC-X3000 is een precisiemicroscoop van Kathmatic die drie functies combineert: vormscannen, observatie met een zeer groot dieptebereik en gecombineerde meting. Het maakt gebruik van spectrale confocale technologie om contactloze, hoogwaardige 3D-microscopische metingen te realiseren.

Het apparaat combineert drie kernfuncties: vormscannen, observatie met een zeer groot dieptebereik en gecombineerde meting. Eén apparaat kan traditionele 3D-profielmeters, microscopen met een zeer groot dieptebereik en instrumenten voor contourenmeting vervangen, waardoor geïntegreerde observatie, scannen en meetbewerkingen mogelijk zijn.